دانلود پایان نامه درمورد قابلیت اندازه گیری و فناوری نانو

دانلود پایان نامه
  • تفکیک پایین و شدت کم اشعه پراشیده نسبت به شدت اشعه الکترونی –
    نیاز به استفاده نمونه بزرگ تر نسبت به پراش الکترونی-
    – شدت اشعه پراشیده شده در این تکنیک وابسته به عدد اتمی می باشد. برای عناصر سبک تر این شدت کمتر بوده و کار را مشکل می کند. به عنوان مثال هنگامی که نمونه از یک اتم سنگین در کنار اتمی سبک تشکیل شده باشد XDR به خوبی تفکیک این دو را ندارد. تکنیک پراش نوترونی راه جایگزینی برای این مشکل می باشد. هم چنین اگر نمونه مجهول دارای فازها یا ترکیبات زیاد باشد، به علت تداخل پیک های مربوط به فاز ها، شناسایی فازها با اطمینان بالا همراه نخواهد بود [44 ].
    2-14-1-1-3 کاربردهای پرتو ایکس (XRD)
    ، تهیه طیف و الگوی پراش ، تعیین تدوین اندیس های میلر XRD انالیز به روش-
    شناسایی فاز یا هرنوع کانی و سنگ، خاک، مواد معدنی-
    تعیین آمورف یا کریستاله بودن ترکیبات مختلف –
    مطالعه ساختار بلوری –
    قابلیت اندازه گیری کیفی و کمی عناصر –
    قابلیت دادن نتایج به صورت اکسیدی-
    اندازه گیری ضخامت فیلم های نازک و چندلایه-
    تعیین درصدفاز به صورت نیمه کمی –
    – تعیین آزبستی بودن یا نبودن ترکیبات
    2-14-2 میکروسکوپ الکترونی
    میکروسکوپ‌های الکترونی شامل دو نوع زیر است:
    الف: میکروسکوپ الکترونی عبوری(TEM).
    ب: میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM).
    میکروسکوپ‌های الکترونی از بهترین ابزار برای بررسی اندازه و شکل نانومواد می‌باشند. این نوع از میکروسکوپ‌ها نیز همانند میکروسکوپ‌های نوری، تصویری از سطح ماده را به ما می‌دهند. با این تفاوت که دقت میکروسکوپ‌های الکترونی بسیار بیشتر از میکروسکوپ‌های نوری است و همچنین، در میکروسکوپ‌های الکترونی به جای نور از الکترون‌هایی استفاده می‌کنند که انرژی زیادی در حد چند هزار الکترون ولت دارند. این انرژی هزاران بار بیشتر از انرژی یک فوتون (2 تا 3 الکترون ولت) می‌باشد [45].
    2-14-2-1 میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)
    میکروسکوپ الکترونی روبشی که به آن Scanning Elecron Microscope ، یا به اختصار SEM گویند، یکی از ابزارهای مورد استفاده در فناوری نانو است که با کمک بمباران الکترونی تصاویر اجسامی به کوچکی 10 نانومتر را برای مطالعه تهیه می کند. ساخت SEM سبب شد تا محققان بتوانند نمونه های بزرگتر را به سادگی و با وضوح بیشتر مطالعه کنند. بمباران نمونه سبب می شود تا الکترونهایی از نمونه به سمت صفحه دارای بار مثبت رها شود که این الکترون ها در آنجا تبدیل به سیگنال می شوند. حرکت پرتو بر روی نمونه، مجموعه ای از سیگنال ها را فراهم می کند که بر این اساس میکروسکوپ می تواند تصویری از سطح نمونه را بر صفحه کامپیوتر نمایش دهد.SEM ، اطلاعات زیر را در خصوص نمونه در اختیار می‌گذارد.
    – توپوگرافی نمونه: خصوصیات سطوح
    – مورفولوژی: شکل ، اندازه و نحوه قرارگیری ذرات در سطح جسم
    این نوشته در مقالات و پایان نامه ها ارسال شده است. افزودن پیوند یکتا به علاقه‌مندی‌ها.